DFT测试程序开发工程师简历模板

• 负责3款SoC芯片DFT测试程序开发，基于V93000平台完成Scan与MBIST向量调试，测试覆盖率由95%提升至98.5%。
• 优化测试流程与向量压缩策略，单颗芯片量产测试时间缩短约20%，年测试成本降低约80万元。
• 主导测试程序版本管理与量产导入，累计支持5个批次量产，测试良率稳定在99%以上。

• 参与2款MCU芯片Scan链插入与ATPG向量生成，覆盖率达成96%，一次流片成功。
• 编写DFT设计规范与测试报告，配合封装测试团队完成样片验证，问题闭环率100%。

• 基于Tessent完成Scan与MBIST测试方案设计，生成并调试测试向量，覆盖率提升至98.5%。
• 在V93000平台完成程序开发与量产验证，测试时间缩短20%，支撑首批10万颗芯片顺利交付。

• 完成Boundary Scan链设计与向量生成，覆盖板级互连测试需求，测试通过率提升至99%。
• 输出测试规范文档并培训测试团队，缩短新项目导入周期约2周。

相关课程：数字集成电路设计、半导体器件、测试与可测性设计。