DFT自动化测试工程师简历模板

• 负责两款28nm SoC的DFT实现，Scan覆盖率从92%提升至98.6%，满足量产签核要求。
• 基于Python+Tcl搭建自动化回归平台，测试向量生成与仿真验证周期缩短约40%。
• 主导MBIST与Boundary Scan方案落地，配合封测厂完成ATE程序调试，量产良率稳定在99%以上。

• 负责数字芯片ATE测试程序开发与维护，单颗测试时间由8.5秒优化至6.2秒。
• 编写自动化数据分析脚本，定位失效批次效率提升50%，支撑产线快速闭环。

• 完成Scan压缩、MBIST与JTAG方案设计，测试向量规模压缩约35%，降低ATE存储成本。
• 建立覆盖率收敛看板与自动化回归流程，签核周期由6周缩短至3.5周。

• 基于Python开发用例调度与结果比对模块，支持夜间自动回归，日均执行用例200+。
• 平台上线后人工重复操作减少约60%，问题定位平均耗时下降45%。

主修数字集成电路设计、可测性设计、半导体器件物理；CET-6。